日本理學X射線熒光光譜儀+ZSX Primus III X射線管位于分析樣品上方，zei大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險，并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡便。

日本理學波長色散X射線熒光光譜儀,它很好的解決了能量色散難于分析的F,Na,Mg,Al,Si的定量分析,組分較為復雜的樣品定性分析方面,發揮了大的作用. 具有WDX特有的良好波長分辨率.可輕易分開Al和Si元素的能譜峰,并對其實行定量分析.

日本理學X射線熒光光譜儀PrimusII是理學公司新奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀,因采用了新型分光晶體,使輕元素分析（如C,B）靈敏度大幅度提高.超輕元素對應X射線光管,大功率4千瓦,薄窗,適合輕元素分析

日本理學X射線熒光光譜儀 1.大輸出功率3kW（可選4kW）,電壓60kV,電流80mA 2.穩定性好 對外電路波動10%為0.005% 3.8樣品交換，可選20,50，100,樣品自動交換，進樣時間4秒

Rigaku日本理學下照式X射線熒光光譜儀 分析對象:4Be-92U 分光系統:波長色散式 X射線發生部 X射線管:端窗式Rh靶 4kW或3kW 高壓發生器:高頻變頻器方式 額定電壓,電流:4kW,60kV-150mA 穩定度: 正負0.005%（對于正負10%輸入變動）

日本理學X射線熒光光譜儀3D CT與Nano 3DX用于材料科學的亞微米斷層攝影 （CT），nano3DX是一種高分辨率 3D X 射線顯微鏡， 它將Rigaku 獨特的高亮度旋轉陽極 X 射線發生器與專有的高分辨率 CCD X 射線攝像頭相結合，提供亞微米級高對比度斷層攝影。

日本理學X射線熒光光譜儀XRF 直接檢測，無需樣品前處理。 滿足煉油廠、實驗室等工業生產需要。 檢出限低、檢測范圍寬、重復性優異。 無需氣體、運行在標準電源下。 符合ASTMD-2622、ISO20884、JISIC2541-7標準。